DTM-MMHI東隆科技供應西格瑪sigma微小樣品觀測用干涉儀DTM-MMHI
| 品名 | 型號 | 數量 |
| 激光組件 | DTM-05-LHP-111 | 1 |
| 偏光板組件 | DTM-DTPF-15C-32 | 2 |
| 反射鏡組件 | TFA-30C05-10-TSD-40801S | 1 |
| 1/2波長板組件 | DTM-WPP-15C-633-2M | 1 |
| PBS組件 | DTM-PBS-20-6328 | 1 |
| 1/4波長板組件 | DTM-WPP-15C-633-4M | 2 |
| 反射鏡組件 | DTM-TFA-30C05-10 | 2 |
| 可動反射鏡組件 | TFA-30C05-10-TSD-401S | 1 |
| 凹透鏡組件 | DTM-SLB-10-30NM | 1 |
| USB攝像頭組件 | DTM-SKDCE-3 | 1 |
| D-TOP底板 | DOBC-2632 | 1 |
PG15,XQ15激光平面干涉儀
PG15激光平面干涉儀 1、工作基于雙光束等厚干涉原理。 2、根據近代光學的研究結果，光兼有波動與微粒兩重特性。光的干涉現象是光的波動性的特性。 主要技術參數： 1、標準平面（A面），http://www.shxsyj.com 防爆應急燈 防爆泛光燈 防爆無極燈 防爆投光燈不鍍膜。工作直徑：D1=Φ146mm，不平度小于0.02μm（λ/30）。 2、第二標準平面（B面），不鍍膜。工作直徑：D2=Φ140mm，不平度小于0.03μm（λ/20）。 3、準直系統：孔徑F/2.8，工作直徑：D1=Φ146mm，焦距：f=400mm 4、測微目鏡：焦距f=16.7mm,放大倍數β=15X，視場角2w=40o，成像物鏡：I、D=4.5；П、D=7；Ш、D=10，f=16，f=23，f=37 5、干涉室尺寸：深260*寬300*190mm。 http://www.ygsmc.com 玉米打捆機 玉米秸稈打捆機 打捆機價格 捆草機 6、光源規格：激光ZN18（He-Ne）。 7、儀器的外形尺寸：長*寬*高350*400*720mm。 8、儀器重量：100公斤。 1、防震性能好、有極好的條紋鎖定度、http://www.zhihe17.com 數字電橋 數字示波器 直流電子負載 函數信號發生器 視場清晰、生產場所可用性優于市場同類產品，大容量的 2、工作室為大批量生產企業的大鏡面檢測提供了方便。 是一種采用量塊或標準零件借以高精度的比較方式的立式精密長度計量儀器。主要用于150mm以下塊規，亦可用作高精密度的長度和外徑的精密測量，是各級計量室的基本長度計量儀器之一。塑料開煉機 小型開煉機 BlueM 滾齒機 階梯電價智能電表 IC卡電表 桶裝生產線 ASCO電磁閥 石油低溫儀器 賽多利斯 耐寒電纜
精密增力電動攪拌器 土壤采樣器 防腐型電磁流量計 拉壓力試驗機 射線探傷機 COD消解器 賀德克濾芯 鋁塑包裝機 土肥儀 自動儀表車床 專用車床 FESTO電磁閥 無線膠裝機 高低溫循環箱 SMC儲氣罐 西門子電動閥 西藥壓片機 去結皮高壓水槍 雙色壓片機 USP標準品 干燥混合設備
BC工業鏡頭，手機鏡頭，車載鏡頭，干涉儀鏡頭
廣東北創光電科技股份有限公司自 2009 年成立，經過多年發展積累，公司現有一個全資子公司－－-佛山市聯儀光學及一個控股子公司－－-成都清儀科技有限公司。形成了覆蓋光學鏡頭、檢測儀器、光學鏡片、自動化設備等多領域研發生產的產業布局。在佛山擁有 6000多平米的光學鏡片加工生產基地及一個1000多平米的鏡頭組裝工廠，2014年公司正式進駐佛山智慧新城，購置了600平米的研發中心。目前公司具有中大口徑鏡片月產100萬片及光學鏡頭月產30萬顆的生產能力。
公司不斷追求創新，先后自主開發設計了多款光學鏡頭、光譜分析儀器及非接觸式厚度測量儀器，已經廣泛應在國內外眾多的光學生產企業，并廣受好評。產品品質及服務已經趕超日本同類產品。北創光電現已經成為經國家認定的高新技術企業，我們的所有產品均為自主研發生產，擁有自主知識產權。公司在發展過程中，組建了強大的研發團隊，擁有多名光學、軟件、電子、機械等方面的優秀人才和技術資源。我們將不斷創新，為廣大客戶提供一流的產品和服務。
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FPS50F-P掃描干涉儀
北京飛凱曼科技公司提供高性價比FPS50型F-P掃描干涉儀。F-P掃描干涉儀是19世紀末法國物理學家發明的，是利用多光束干涉產生十分細銳的干涉條紋的重要光譜儀器。廣泛用于光譜線的精細結構和超精細結構的研究，以了解物質的內部結構。歷史上，科學家曾利用F-P干涉儀精確測定了里德伯常數；發現了蘭姆位移等。隨著科技的進步，其應用范圍不斷擴大，現在F-P干涉在光學測量方面對位移測量的精度已進入納米量級。
F-P掃描干涉儀是一種基于薄膜分振幅干涉原理實現不等強度多光束干涉的典型實驗裝置。它具有很高的分辨本領和集光本領，因此常用于分析光譜的超精細結構，研究光的塞曼效應和物質的受激布里淵散射，精確比較測定光波波長和波長差，以及激光選模等項工作中。
應用相關理論對F-P干涉儀進行研究分析，分析研究它的色分辨本領,及涉及的因素,對如何提高干涉儀的色分辨本領和改進干涉儀有廣泛的意義。
產品功能和特點：
1） 測試儀集成度高，免維護；
2） 適用于多種波長；
3） 多種精細常數可選；
4） 高性價比。
技術參數：
1） 干涉儀結構：可調自由光譜區，平行平板結構
2） 適用波長：473、532、632.8、680、850、980、1064、1310、1319nm等
3） 精細常數：50、100、200等
4） 掃描頻率：1-100Hz
5） 掃描波形：鋸齒波（0-200V）
應用：
激光器的縱模觀察和測量
詳細信息請聯系我們： 134-26411645 @pcm-bj.com QQ:
G5U-PH/S5U-PH手機激光干涉儀上海乾曜光學科技有限公司
一、儀器規格參數
G5U-PH激光干涉儀是G10U-PH的高分辨率升級版，為3D屏及全面屏攝像孔檢測而定制，可以滿足更大的透過波前PV值的測量。
儀器規格參數表
硬件部分：
| 產品型號 | G5U-PH |
| 產品名稱 | 5mm正立式激光干涉儀 |
| 測試口徑 | Φ5mm |
| 輔助對準口徑 | Φ30mm |
| 標準鏡面形精度 | λ/20 |
| 光源 | 進口He-Ne激光器（632.8nm) |
| 光路切換 | 輔助觀察（Φ30mm大視場）與測試（Φ5mm小視場）模式電控切換 |
| 電源 | AC220V50HZ |
軟件部分：
| 軟件名稱 | 移相算法（簡稱PH） |
| 分析項目 | 透過波前PV值、平行度Tilt值等 |
| 測試重復性 | PV：0.01λ RMS:0.003λ |
| 測試允許誤差 | PV<1λ時 PV：0.05λ Tilt：0.2fr（零場調整為1根條紋） 1λ<PV<2λ時 PV：0.1λ Tilt：0.5fr（零場調整為1根條紋） 2λ<PV<3λ時 PV：0.2λ Tilt：1fr（零場調整為1根條紋） |
| 測試時間 | 1.5~2秒 |
| 產品型號 | S5U-PH |
| 產品名稱 | 5mm正立式激光干涉儀 |
| 測試口徑 | Φ5mm |
| 輔助對準口徑 | Φ30mm |
| 標準鏡面形精度 | λ/20 |
| 光源 | 進口半導體激光器（635nm) |
| 光路切換 | 輔助觀察（Φ30mm大視場）與測試（Φ5mm小視場）模式電控切換 |
| 電源 | AC220V50HZ |
| 軟件名稱 | 移相算法（簡稱PH） |
| 分析項目 | 透過波前PV值、平行度Tilt值等 |
| 測試重復性 | PV：0.01λ RMS:0.003λ |
| 測試允許誤差 | PV<1λ時 PV：0.05λ Tilt：0.2fr（零場調整為1根條紋） 1λ<PV<2λ時 PV：0.1λ Tilt：0.5fr（零場調整為1根條紋） |
| 測試時間 | 1.5~2秒 |
SGM-1 SGM-1 邁克爾孫干涉儀
￥5900元