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EXF-10B鍍層測厚儀~~電鍍層測厚儀~~億信豐科技

 鍍層測厚儀

 儀器介紹

    EXF-10B是集多年的經驗,專門研發用于鍍層行業的一款儀器,可全自動軟件操作,可多點測試,由軟件控制儀器的測試點,以及移動平臺。是一款功能強大的儀器,配上專門為其開發的軟件,在鍍層行業中可謂大展身手。

 性能特點

 滿足各種不同厚度樣品以及不規則表面樣品的測試需求

可以滿足微小測試點的需求,最小可達0.2mm

 高精度移動平臺可精確定位測試點.

鼠標可控制移動平臺,鼠標點擊的位置就是被測點

 高分辨率探頭使分析結果更加精準

 良好的射線屏蔽作用

 測試口高度敏感性傳感器保護

 

技術指標

 

型號:EXF-10B

 元素分析范圍從鋁(Al)到鈾(U)。

同時可以分析30種以上元素,五層鍍層。

 分析檢出限可達2ppm,最薄可測試0.005μm

 分析含量一般為ppm99.9%

 鍍層厚度一般在50μm以內(每種材料有所不同)

 任意多個可選擇的分析和識別模型。

 相互獨立的基體效應校正模型。

 多變量非線性回收程序

工作溫度:15℃至30℃ 濕度:≤80%

 電源: 交流220V±5V

外型尺寸:670mm×470mm×370mm

測量倉:520mm×370mm×105mm

 重量:45kg

 

標準配置

 

精密二維移動樣品平臺。

 Si-Pin探測器。

 信號檢測電子電路。

 高低壓電源。

 X光管。

 高度傳感器

 保護傳感器

 計算機

彩色打印機

 應用領域

 黃金,鉑,銀等貴金屬和各種首飾的含量檢測.

 金屬鍍層的厚度測量, 電鍍液和鍍層含量的測定。

 主要用于貴金屬加工和首飾加工行業;銀行,首飾銷售和檢測機構;電鍍行業。

 

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該公司產品分類: 水質分析儀/多參數水質分析儀 色譜工作站 液相色譜儀 貴金屬分析儀 鹵素測試儀 合金分析儀 礦石分析儀 ROHS檢測儀

PX-7美國DAKOTA進口超聲波測厚儀PX-7

 PX-7超聲波測厚儀PX-7精密超聲波測厚儀系采用現代數字技術,能快速精確的得數讀數.具有報警模式\差值模式\內部數據記錄和RS-232數據輸出功能.并可與計算機或數據獲取系統連接。 PX-7精密測厚儀的回波-回波模式,具有穿過漆層或涂層測量的功能。 達高特公司新推出的PX-7系列精密測厚儀已經面世了。這一性能優良的測厚儀家族是為惡劣的工業環境和高精度的測量要求而設計的,并能很好的滿足各方面應用。 產品特點 測量模式:回波、回波一回波(穿過漆層)和自動轉換。單點測量每秒4個讀數,或在掃描模式中每秒8個一用于獲取小厚 度。單點校準 差值模式:輸入合格的厚度值,儀器會顯示出與輸入值的±差值。 報譬模式: 輸入一個小合格厚度值。如果測量值在高/低限之外,紅色報警燈會亮,且有聲響報警。如果測量值在高/低限之內,綠燈發亮,表示測量值在正常范圍內。 數據輸出:RS-232輸出可將數據送至串行打印機、計算機或其它外部裝置。 質量認證:出廠時均按英國國家標準校驗。 技術參數 范圍:0.15-25.4mm(可在英制,公制間切換) 分辨率:0.001mm 聲速范圍:1250-10,000m/s 工作溫度:-30℃-50℃ 機殼:擠壓鋁機殼,帶鍍鎳鋁蓋帽,具有密封墊片。 電源:2節1.5V堿性電池或1.2V AA鎳鉻電池標稱工作時間:150小時,堿性電池;100小時,鎳鉻電池。電池電量不足時,顯示閃爍;當電池電量過低不能正常工作時自動關機。 顯示:多功能4.5位數字LCD顯示,0.5英寸高,背光可選開/關/自動(僅用時才亮)。用英寸、英寸/微秒、毫米和米/秒顯示測量值。條形田指示讀數穩定。 鍵盤:9個觸摸鍵具有密封覆膜。能防水耐油。 內部數據庫(僅Px-7DL):自動數據記錄系統,1000個讀數。容量(10個文件,每個100個讀數)OBST指示無讀數。配備有數據獲取軟件和電纜。 探頭:單晶延遲探頭。 頻率范圍:10—22MHZ快鎖式LEMO型接頭。1.2米探頭電纜。(可提供用戶特需探頭) 尺寸:63.5寬x114.3高x31.5厚mm 重量:285克
該公司產品分類: 分選機 光譜儀 探傷儀 硬度計 測漏儀 測厚儀 粗糙度輪廓儀 圓度柱儀 形狀測試類 無損檢測類 自動化設備 儀器儀表

1101濕膜測厚儀/梳規

梳式測厚儀是尺狀的,在六面都有支撐基點,每個面均有不同長度的齒。測量時,將量程范圍與漆膜估計厚度相近的那個面垂直地壓入濕膜。測量范圍:25-3000μm

minitest1100minitest涂層測厚儀

涂鍍層測厚儀MiniTest1100/2100/3100/4100特點:MiniTest1100/2100/3100/4100包括四種不同的主機,各自具有不同的數據處理功能;所有型號均可配所有探頭;可通過RS232接口連接MiniPrint打印機和計算機;可使用一片或二片標準箔校準。

技術特征型號 1100 2100 3100 4100MINITEST 存儲的數據量  應用行數(根據不同探頭或測試條件而記憶的校準基礎數據數) 1 1 10 99每個應用行下的組(BATCH)數(對組內數據自動統計計算,并可設寬容度極限值) 1 10 99可用各自的日期和時間標識特性的組數 1 500 500數據總量 1 10000 10000 10000MINITEST統計計算功能 讀數的六種統計值x,s,n,max,min,kvar √ √ √讀數的八種統計值x,s,n,max,min,kvar,Cp,Cp √ √ 組統計值六種x,s,n,max,min,kvar   √ √ 組統計值八種x,s,n,max,min,kvar,Cp,Cpk √ √ 存儲顯示每一個應用行下的所有組內數據 √ 分組打印以上顯示和存儲的數據和統計值  √ √ 顯示并打印測量值、打印的日期和時間  √ √ √ 其他功能  設置極限值     √ √ 連續測量模式快速測量,通過模擬柱識別最大最小值     √ √ 連續測量模式中測量穩定后顯示讀數

 √ √ 連續測量模式中顯示最小值 √ √ 可選探頭參數

所有探頭都可配合任一主機使用。在選擇最適用的探頭時需要考慮覆層厚度,基體材料以及基體的形狀、厚度、大小、幾何尺寸等因素。F型探頭:測量鋼鐵基體上的非磁性覆層

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該公司產品分類: 非接觸式 接觸式 紅外測溫儀 洛氏硬度計 肖氏硬度計 巴氏硬度計 維式硬度計 布氏硬度計 邵氏硬度計 里氏 時代粗糙度儀配件 粗糙度儀 便攜式粗糙度儀 表面粗糙度儀 美泰超探 北京時代 友聯超探 粗糙度儀配件 硬度計配件 時代儀器配件

SFT110X射線熒光鍍層測厚儀

Ø 通過自動定位功能提高操作性 測量樣品時,以往需花費約10秒的樣品對焦,現在3秒內即可完成,大大提高樣品定位的操作性。 

Ø 微區膜厚測量精度提高 通過縮小與樣品間的距離等,致使在微小準直器(0.1、0.2mm)下,也能夠大幅度提高膜厚測量的精度。 

Ø 多達5層的多鍍層測量 使用薄膜FP法軟件,即使沒有厚度標準片也可進行多達5層10元素的多鍍層測量。 

Ø 廣域觀察系統(選配) 可從最大250×200mm的樣品整體圖像指定測量位置。 

Ø 對應大型印刷線路板(選配) 可對600×600mm的大型印刷線路板進行測量。 

Ø 低價位 與以往機型相比,既提高了功能性又降低20%以上的價格。

 

該公司產品分類: 尼康 卡規、角度尺、水平儀 步距規、 量塊、測厚規 測長儀 數碼工程打印機 其他各種常用量具 數顯表、百分表、杠桿表 卡尺、千分尺、微分頭 材料試驗機 除銹油 美國施泰力 東京精密 三坐標測量機 涂層測厚儀 鍍層測厚儀 測量投影儀、影像測量儀 電子天平、水分測試儀 色差、光澤計 齒輪測量儀 顯微鏡、內窺鏡

TT100/TT100a/TT110/TT120/TT130 超聲波測厚儀

功能特點:
非線形自動補償,利用計算機軟件對探頭非線性誤差進行修正,以提高測量標準度
可存儲10個測量值
2.5MHz,5MHz,7MHz探頭可選
大屏幕LCD,背光顯示,自動關機
TT100,TT100A,TT130可利用已知厚度試塊測量聲速,適合測量金屬,塑料,陶瓷,玻璃,及其他任何超聲波的良導體
TT110,TT120僅兩個按鍵,操作極其簡便,適合測量鋼材料
TT120具有高溫測量功能,被測物體溫度可達300℃
 
技術參數:
    

性能\型號
TT100
TT100a
TT110
TT120
TT130
測量范圍
0.75~300.00㎜(鋼,由探頭決定)
顯示分辨率
0.1㎜
0.01㎜
背光顯示
聲速范圍
1000~9999m/s
5900m/s
1000~9999m/s
工件表面溫度
.-10~+60℃
.-10~+300℃
.-10~+60℃
顯  示
4位LCD
測量精度
±(1%H+0.1)㎜      H為被測物實際厚度
管材測量下限
⊙20㎜×3.0㎜(鋼,由探頭決定)
探頭直徑
⊙6㎜(選配),⊙10㎜(標配),⊙12㎜(選配)
校  準
4.0㎜(鋼)
電壓指示
低電壓提示
電  源
AA型堿性1.5V電池(2節)
操作時間
連續操作可達250小時
外形尺寸
126㎜×68㎜×23㎜
重  量
170g
標準配置
主機,5MHz探頭,4.0㎜鋼校準塊,AA型堿性電池,耦合劑
可選附件
2.5MHz探頭(3~300㎜),7MHz探頭(0.75~60㎜)

該公司產品分類: 超聲波流量計 電磁流量計 測溫儀 硬度計 邵氏硬度計 布氏硬度計 洛氏硬度計 里氏硬度計 硬度計

超聲波探傷儀、測厚儀、硬度計

超聲波探傷儀、測厚儀、硬度計

EPOCH 4型數字超聲波探傷儀

EPOCH XT超聲波探傷儀

EPOCH LT超聲波探傷儀

EPOCH 4PLUS 超聲波探傷儀

EPOCH 4B  經濟型超聲探傷儀

MG2 MG2-XT MG2-DL超聲波測厚儀

26MG 26MG-XT 26XTDL系列超聲波測厚儀

Model 25超聲波測厚儀

25HP PLUS超聲波測厚儀  

25DL PLUS超聲波測厚儀

37DL PLUS 超聲波腐蝕厚度測量儀

QuaNix4200、QuaNix4500、QuaNix1200、QuaNix1500、QuaNix7500、QuaNix8500、QuaNixkeyless涂層測厚儀

HARTIP1000 、HARTIP1500、 HARTIP3000硬度計

TDS-100超聲波流量計

TT220涂層測厚儀

·TT210涂層測厚儀
·TT220涂層測厚儀
·TT230涂層測厚儀
·TT240涂層測厚儀
·TT260涂層測厚儀

 

 
 

 

TT220涂層測厚儀

 

 

 

 

 

 

 

 

 

產品說明:

  

 

 

    

TT220采用了磁性測厚法,是一種超小型測量儀,它能快速、無損傷、精頦地進行鐵磁性金屬基體上的覆層厚度的測量。可廣泛用于制造業、金屬加工業、化工業、商檢等檢測領域。由于該儀器體積小,測頭與儀器一體化,特別適用于工程現場測量。主要功能  可進行零點校準及二點校準。  可對測頭進行基本校準。  設有五個統計量:平均值(MEAN)、最大值(MAX)、最小值(MIN)、測試次數(NO)、標準偏差(S.DEV)。  可存貯和統計計算15個測量值。  具有兩種測量方式:連續測量方式(CONTINUE)和單次測量方式(SINGLE)。  具有自動關機功能。  刪除功能:對測量中出現的單次可疑數據進行刪除,也可刪除存貯區內的所有數據,以便進行新的測量。   操作過程有蜂鳴聲提示。  有欠壓指示功能。  有錯誤提示功能。主要技術指標  測量原理:磁性法  測量范圍:1~1250μm  測量精度:±(3%H+1)μm(零點校準)       ±[(1~3)%H+1] μm(二點校準)

該公司產品分類: 錨紋儀 紅外測溫儀 超聲波硬度計 粗糙度儀 布氏硬度計 洛氏硬度計 里氏硬度計 涂層測厚儀 超聲波測厚儀

EX-3000非接觸熒光涂層測厚儀

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更多儀器信息請瀏覽:大邁 上海站www.sh117.com          大邁 蘇州站www.sz117.com          大邁 寧波站www.nb117.com

儀器特點:搭載MS-WINDOWS系統(的操作性與高精度測定)與IBM PC 相容個人電腦 使用與IBM PC相容個人電腦,采用MS-WINDOWS軟體,使用時多彩多姿。 采用二種濾波器 用用數位式濾波器外另有機械式濾波器(兩種濾波器),在測定時,若是最適當的條件下,經常可得到的精度。準值儀5種孔徑內藏式 最小的準值儀孔徑僅0.1 mm,可測定極微小的部品。 標準:0.1,0.2,0.5,1.0,2.0另備有2種特別規格可供選購。 0.05,0.1,0.2,0.3,0.5 0.05*0.5,0.1,0.2,0.3,0.5自動測定測量臺 利用滑鼠來調整測量位置,非常敏捷快速。或是測量位置已完成登陸時,可連續自動測定,利用座標補正、連結頻道,來應付各種測量軌跡。亦可用自動測定來作標準片校正。 的顯示機能 測定部顯示盡像的表示 X線照射部可由WINDOWS畫面上取得照射部的表示。從準儀照射測定物的位置,可由倍率率更機能來實現盡面上測出物放大。在膜厚測定中的能譜表示 由多頻分析器可快速處理能譜分析。可執行測定物的能譜分析表示,操作簡單。 提長資料處理的速度 充實測量報告的作成機能 采用MS-WINDOW軟件,測定畫的擷取,非常簡便,可充襯測量報告的制作機能。可同時間隔處理多項工作,機器在測量中亦可處理其他工作:包括如測量報告的制作。測定物膜厚附著分布表示 以三次元圖案來表示測定物膜厚附著狀態的分布,作判定時一目了然。 獲得安心的性。 自己診斷機能及X線管保食機能 自己診斷機能,迅速的對策來排除機器的因擾。附有X線管的使用時間及耐久時間表示機能,可加強保養的安全性。各機型規格參數:

機型手動測量臺自動測量臺
測量主體測量臺尺寸(mm)170*110240*220
移動量X(mm)70200
Y(mm)70200
Z(mm)50(最大150)50
測定物最大高度(mm)50(option 150)50
尺寸(mm)602(W)*463(D)*732(H)
重量(kg)5561
樣品最大何重(kg)31
電腦尺寸(mm)本體182(W)*383(D)/顯示幕412(W)*415(D)*432(H)
電腦重量(kg)本體9/顯示幕16
印表機重量(kg)5.2
電源AC100V±10V(option AC115V、AC230

儀器詳細介紹:

參. 。
 1. X線源油浸式1.2mA小型微小焦點X線管. 50kV管電壓,可變管電壓。
2. 照射方式由上而下垂直照射方式。
3. 檢出器比例計數管。
4. 濾波器採用 Co 和 Ni 雙濾波器及數位式濾波器,可單一或同時使用。
5. 準直儀Collimator 採用五種孔徑一體成型式,可自動切換使用。0.1, 0.2, 0.5, 1.0, 2.0 ψ㎜.(選購) 0.05 ×0.5, 0.05, 0.1, 0.2, 0.5 ψ㎜.(選購) 0.05, 0.1, 0.2, 0.3, 0.5 ψ㎜.
6. 樣品觀測系統彩色CCD及高畫質顯示幕。
7. 譜分析器使用256高頻分析器,光譜自動分析,在執行測量及運算時,非常快速。
電腦操作部:8. 電腦系統(※僅供參考)IBM 相容中文個人電腦. CPU:Intel Celeron 1GHz. RAM:128 MB.Floppy Disk:3.5 ×1, 40倍速 CD-ROM ×1.Hard Disk:40 GB.17" 高畫質顯示幕.EPSON彩色噴墨式印表機。
9. 本機型(COSMOS-1X系列)之操作系統採中文視窗(Windows98)對話式操作,非常簡便。
特性說明:10. 測量項目單層膜厚測定. 2層膜厚測定. 3層膜厚測定. 無電解鎳膜厚測定. 合金膜厚成份比同時測定. 元素的光譜峰值測定分析.
11. 測量材質原子序22(Ti) ~ 82(Pb)為激發法測量。 原子序22以下為吸收法測量。
12. 測量範圍原子序22 ~ 24 , 約 0.2 ~ 20 um. 原子序25 ~ 40 , 約 0.1 ~ 30 um. 原子序41 ~ 51 , 約 0.2 ~ 70 um. 原子序52 ~ 82 , 約 0.05~ 10 um.
13. 測量機能同一點重複測定機能 輸出形式設定.能譜測定.
14. 測量條件或膜厚規格可以保存當要測量相同的製品時,若測量條件已儲存,可以馬上進行測量。最大檢量線檔案數:可登錄儲存100組檔案。最大測量檔案數 :可登錄儲存300組檔案。
15. 檔案記錄每一個批號可儲存無限個測量資料.(因所使用的電腦之容量大小而定)每一個測量檔案可輸入及儲存公司名稱.每個批號可單獨執行統計處理.每個測量檔案可輸入不同的檢量線(校正曲線).
16. 資料處理統計值表示:平均值、標準偏差、最大值、最小值、上下限值範圍、Cp、Cpk。X-R 管制圖.柱狀圖:有自動設定及自己任意設定二種方式。可彩色列印觀物顯示幕上所觀測之圖像。
17. 底材補正當樣品與標準片的底材不同時,可作底材補正。
18. 觀物顯示幕十字刻度線的高解析度彩色觀物顯示幕
安全裝置.19. 本機俱有自動安全斷電系統功能.
20. 由鎖匙開關來控制X 線輸出,以防止外人任意操作.
其他機能.21. 密碼辨識功能
22. 裝置維護調整
23. 測量部主機尺寸:362(W) ×425(D) ×486(H) ㎜.重量:約 44.2 Kg.
24. 操作部:(※僅供參考)電腦尺寸:180(W) ×420(D) ×360(H) ㎜.重量:約 8.8 Kg.顯示幕尺寸:360(W) ×420(D) ×370(H) ㎜.重量:約16.5 Kg.印表機尺寸:500(W) ×250(D) ×300(H) ㎜.重量:約 4.3 Kg.
X-Y-Z軸可移動式測量臺25. 測量臺尺寸及移動量.測量臺尺寸 170 (W) ×100 (D) ㎜移動量(X-Y-Z軸) 70 ×70 ×50 ㎜.
26. 測量樣品限制樣品限制高度: 45㎜樣品限制重量: 3 Kg.
使用電源.27. 電壓AC100V ±10V ; 50/60Hz(選購) AC110V, AC220V.
28. 容量700V

該公司產品分類: 近紅外光譜(NIR) 土壤酸度計/土壤pH計 激光拉曼光譜(RAMAN) 氫分析儀 其它光學測量儀 其它環境監測 其它光譜儀 照度計 紫外、紫外分光光度計、紫外可見分光光度計、UV 其它水質分析 其它流變儀/粘度計 在線pH計/酸度計 恒溫器 便攜式分光光度計 色度儀 水質重金屬檢測儀/監測儀 離子檢測儀 紅外顯微鏡 均質器 、均質機、乳化機 純水器、超純水器、純水機、超純水機

CMI900/950測厚儀/鍍層測厚儀

CMI900/950系列X射線熒光測厚儀是一種功能強大的材料涂/鍍層測量儀器,可應用于材料的涂/鍍層厚度、材料組成、貴金屬含量檢測等領域,為產品質量控制提供、快速的分析。基于Windows2000中文視窗系統的中文版SmartLink FP應用軟件包,實現了對CMI900/950主機的自動化控制,分析中不需要任何手動調整或手動參數設定。可同時測定最多5層、15種元素。數據統計報告功能允許用戶自定義多媒體分析報告格式,以滿足您特定的分析報告格式要求;如在分析報告中插入數據圖表、測定位置的圖象、CAD文件等。統計功能提供數據平均值、誤差分析、最大值、最小值、數據變動范圍、相對偏差、UCL(控制上限)、LCL(控制下限)、CpK圖、直方圖、X-bar/R圖等多種數據分析模式。

CMI900/950系列X射線熒光測厚儀能夠測量多種幾何形狀、各種尺寸的樣品;并且測量點最小可達0.025 x 0.051毫米。

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