s-snom技術(shù)使用金屬鍍層的原子力(afm)探針針尖代替?zhèn)鹘y(tǒng)光纖探針來增強樣品的納米尺度區(qū)域的散射,散射信號可以在遠場被檢測到。而這些散射信號攜帶了樣品在金屬探針針尖下納米區(qū)域的復(fù)雜光學性質(zhì)。具體而言,這些散射光的信息包括光的振幅和相位,通過適當?shù)哪P停@些測量可以估算出針尖下樣品納米尺度區(qū)域材料的光學常數(shù)(n,k)。在某些情況下,光學相位與波長還提供了個與同種材料常規(guī)吸收光譜近似的光譜信息
更新時間:2024-12-26