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元器件測(cè)試產(chǎn)品及廠家

奉化 DT4電工純鐵圓鋼  工業(yè)純鐵棒材
更新時(shí)間:2024-12-27
嘉興DT4C純鐵盤(pán)圓
更新時(shí)間:2024-12-27
智能便攜阻容測(cè)試儀RC電容電阻測(cè)量?jī)x小量程高精度柔性傳感器檢測(cè)
智能便攜,小量程、高精度、可偵測(cè)微小變化。
更新時(shí)間:2024-12-26
MTS備件  祥樹(shù) 優(yōu)勢(shì)報(bào)價(jià)
上海祥樹(shù),歐洲原裝進(jìn)口工業(yè)備件。(1流的報(bào)價(jià)速度+優(yōu)惠的價(jià)格+100%原裝進(jìn)口)我司業(yè)供應(yīng)歐洲工業(yè)產(chǎn)品、儀器儀表及設(shè)備備件,歡迎來(lái)電咨詢(xún)。
更新時(shí)間:2024-12-26
信號(hào)完整性測(cè)試SI 電源完整性測(cè)試P HDMI接口一致性測(cè)試 USB3.0一致性測(cè)試 以太一致性測(cè)試
spi測(cè)試,硬件測(cè)試服務(wù),信號(hào)完整性測(cè)試,電源完整性測(cè)試
更新時(shí)間:2024-12-26
USB2.0測(cè)試平臺(tái),測(cè)試服務(wù),硬件測(cè)試,一致性測(cè)試 USB3.0信號(hào)質(zhì)量測(cè)試 USB3.0眼圖測(cè)試 USB3.0一致性
usb3.0、usb2.0一致性測(cè)試、lfps測(cè)試、lfps測(cè)試、眼圖與抖動(dòng)測(cè)試、ssc測(cè)試
更新時(shí)間:2024-12-26
協(xié)會(huì) PCIE5.0  一致性測(cè)試 夾具 U.2 (NVME) Gen5 CBB
淼森波實(shí)驗(yàn)室 “協(xié)匯“ pcie5.0 夾具,pcie5.0 夾具銷(xiāo)售(u.2(nvme) clb/cbb; u.3(nvme) clb/cbb; edsff(e1.s/e1.l) clb/cbb; m.2 clb/cbb; ocp3.0 clb/cbb; re-driver board)
更新時(shí)間:2024-12-26
協(xié)會(huì) PCIE5.0  一致性測(cè)試 夾具 U2 (NVME) Gen5 CLB
淼森波實(shí)驗(yàn)室 “協(xié)匯“ pcie5.0 夾具,pcie5.0 夾具銷(xiāo)售(u.2(nvme) clb/cbb; u.3(nvme) clb/cbb; edsff(e1.s/e1.l) clb/cbb; m.2 clb/cbb; ocp3.0 clb/cbb; re-driver board)
更新時(shí)間:2024-12-26
淼森波實(shí)驗(yàn)室 協(xié)會(huì) PCIE5.0 夾具 OCP3.0 Gen5 CBB
淼森波實(shí)驗(yàn)室 “協(xié)匯“ pcie5.0 夾具,pcie5.0 夾具銷(xiāo)售(u.2(nvme) clb/cbb; u.3(nvme) clb/cbb; edsff(e1.s/e1.l) clb/cbb; m.2 clb/cbb; ocp3.0 clb/cbb; re-driver board)
更新時(shí)間:2024-12-26
淼森波實(shí)驗(yàn)室 協(xié)會(huì) PCIE5.0 夾具 OCP3.0 Gen5 CLB
淼森波實(shí)驗(yàn)室 “協(xié)匯“ pcie5.0 夾具,pcie5.0 夾具銷(xiāo)售(u.2(nvme) clb/cbb; u.3(nvme) clb/cbb; edsff(e1.s/e1.l) clb/cbb; m.2 clb/cbb; ocp3.0 clb/cbb; re-driver board)
更新時(shí)間:2024-12-26
淼森波實(shí)驗(yàn)室 協(xié)會(huì) PCIE5.0 夾具 M.2 Gen5 CBB
淼森波實(shí)驗(yàn)室 “協(xié)匯“ pcie5.0 夾具,pcie5.0 夾具銷(xiāo)售(u.2(nvme) clb/cbb; u.3(nvme) clb/cbb; edsff(e1.s/e1.l) clb/cbb; m.2 clb/cbb; ocp3.0 clb/cbb; re-driver board)
更新時(shí)間:2024-12-26
淼森波實(shí)驗(yàn)室 協(xié)會(huì) PCIE5.0 夾具 M.2 Gen5 CLB
淼森波實(shí)驗(yàn)室 “協(xié)匯“ pcie5.0 夾具,pcie5.0 夾具銷(xiāo)售(u.2(nvme) clb/cbb; u.3(nvme) clb/cbb; edsff(e1.s/e1.l) clb/cbb; m.2 clb/cbb; ocp3.0 clb/cbb; re-driver board)
更新時(shí)間:2024-12-26
淼森波實(shí)驗(yàn)室 協(xié)會(huì) PCIE5.0 夾具 EDSFF(E1.S/E1.L) Gen5 CBB
淼森波實(shí)驗(yàn)室 “協(xié)匯“ pcie5.0 夾具,pcie5.0 夾具銷(xiāo)售(u.2(nvme) clb/cbb; u.3(nvme) clb/cbb; edsff(e1.s/e1.l) clb/cbb; m.2 clb/cbb; ocp3.0 clb/cbb; re-driver board)
更新時(shí)間:2024-12-26
淼森波實(shí)驗(yàn)室 協(xié)會(huì) PCIE5.0 夾具 EDSFF(E1.S/E1.L) Gen5 CLB
淼森波實(shí)驗(yàn)室 “協(xié)匯“ pcie5.0 夾具,pcie5.0 夾具銷(xiāo)售(u.2(nvme) clb/cbb; u.3(nvme) clb/cbb; edsff(e1.s/e1.l) clb/cbb; m.2 clb/cbb; ocp3.0 clb/cbb; re-driver board)
更新時(shí)間:2024-12-26
淼森波實(shí)驗(yàn)室 協(xié)會(huì) PCIE5.0 夾具 U.3(NVME) Gen5 CBB
淼森波實(shí)驗(yàn)室 “協(xié)匯“ pcie5.0 夾具,pcie5.0 夾具銷(xiāo)售(u.2(nvme) clb/cbb; u.3(nvme) clb/cbb; edsff(e1.s/e1.l) clb/cbb; m.2 clb/cbb; ocp3.0 clb/cbb; re-driver board)
更新時(shí)間:2024-12-26
淼森波實(shí)驗(yàn)室 協(xié)會(huì) PCIE5.0 夾具 U.3 (NVME) Gen5 CLB
淼森波實(shí)驗(yàn)室 “協(xié)匯“ pcie5.0 夾具,pcie5.0 夾具銷(xiāo)售(u.2(nvme) clb/cbb; u.3(nvme) clb/cbb; edsff(e1.s/e1.l) clb/cbb; m.2 clb/cbb; ocp3.0 clb/cbb; re-driver board)
更新時(shí)間:2024-12-26
淼森波實(shí)驗(yàn)室 協(xié)會(huì) PCIE5.0 夾具 U2 (NVME) Gen5 CBB
淼森波實(shí)驗(yàn)室 “協(xié)匯“ pcie5.0 夾具,pcie5.0 夾具銷(xiāo)售(u.2(nvme) clb/cbb; u.3(nvme) clb/cbb; edsff(e1.s/e1.l) clb/cbb; m.2 clb/cbb; ocp3.0 clb/cbb; re-driver board)
更新時(shí)間:2024-12-26
PCIE5.0 夾具 驗(yàn)證,調(diào)試和一到性測(cè)試解決方案
淼森波實(shí)驗(yàn)室 “協(xié)匯“ pcie5.0 夾具,pcie5.0 夾具銷(xiāo)售(u.2(nvme) clb/cbb; u.3(nvme) clb/cbb; edsff(e1.s/e1.l) clb/cbb; m.2 clb/cbb; ocp3.0 clb/cbb; re-driver board)
更新時(shí)間:2024-12-26
淼森波實(shí)驗(yàn)室 協(xié)會(huì) PCIE5.0 夾具 U2 (NVME) Gen5 CLB
淼森波實(shí)驗(yàn)室 “協(xié)匯“ pcie5.0 夾具,pcie5.0 夾具銷(xiāo)售(u.2(nvme) clb/cbb; u.3(nvme) clb/cbb; edsff(e1.s/e1.l) clb/cbb; m.2 clb/cbb; ocp3.0 clb/cbb; re-driver board)
更新時(shí)間:2024-12-26
協(xié)會(huì) PCIE5.0 一致性測(cè)試 夾具 OCP3.0 Gen5 CBB
淼森波實(shí)驗(yàn)室 “協(xié)匯“ pcie5.0 夾具,pcie5.0 夾具銷(xiāo)售(u.2(nvme) clb/cbb; u.3(nvme) clb/cbb; edsff(e1.s/e1.l) clb/cbb; m.2 clb/cbb; ocp3.0 clb/cbb; re-driver board)
更新時(shí)間:2024-12-26
協(xié)會(huì) PCIE5.0 一致性測(cè)試 夾具 OCP3.0 Gen5 CLB
淼森波實(shí)驗(yàn)室 “協(xié)匯“ pcie5.0 夾具,pcie5.0 夾具銷(xiāo)售(u.2(nvme) clb/cbb; u.3(nvme) clb/cbb; edsff(e1.s/e1.l) clb/cbb; m.2 clb/cbb; ocp3.0 clb/cbb; re-driver board)
更新時(shí)間:2024-12-26
淼森波實(shí)驗(yàn)室 協(xié)會(huì) PCIE5.0 夾具 M.2 Gen5 CBB
淼森波實(shí)驗(yàn)室 “協(xié)匯“ pcie5.0 夾具,pcie5.0 夾具銷(xiāo)售(u.2(nvme) clb/cbb; u.3(nvme) clb/cbb; edsff(e1.s/e1.l) clb/cbb; m.2 clb/cbb; ocp3.0 clb/cbb; re-driver board)
更新時(shí)間:2024-12-26
協(xié)會(huì) PCIE5.0 一致性測(cè)試 夾具 M.2 Gen5 CLB
淼森波實(shí)驗(yàn)室 “協(xié)匯“ pcie5.0 夾具,pcie5.0 夾具銷(xiāo)售(u.2(nvme) clb/cbb; u.3(nvme) clb/cbb; edsff(e1.s/e1.l) clb/cbb; m.2 clb/cbb; ocp3.0 clb/cbb; re-driver board)
更新時(shí)間:2024-12-26
協(xié)會(huì) PCIE5.0 一致性測(cè)試 夾具 EDSFF(E1.S/E1.L) Gen5 CBB
淼森波實(shí)驗(yàn)室 “協(xié)匯“ pcie5.0 夾具,pcie5.0 夾具銷(xiāo)售(u.2(nvme) clb/cbb; u.3(nvme) clb/cbb; edsff(e1.s/e1.l) clb/cbb; m.2 clb/cbb; ocp3.0 clb/cbb; re-driver board)
更新時(shí)間:2024-12-26
協(xié)會(huì) PCIE5.0 一致性測(cè)試 夾具 EDSFF(E1.S/E1.L) Gen5 CLB
淼森波實(shí)驗(yàn)室 “協(xié)匯“ pcie5.0 夾具,pcie5.0 夾具銷(xiāo)售(u.2(nvme) clb/cbb; u.3(nvme) clb/cbb; edsff(e1.s/e1.l) clb/cbb; m.2 clb/cbb; ocp3.0 clb/cbb; re-driver board)
更新時(shí)間:2024-12-26
協(xié)會(huì) PCIE5.0  一致性測(cè)試 夾具 U.3 (NVME) Gen5 CBB
淼森波實(shí)驗(yàn)室 “協(xié)匯“ pcie5.0 夾具,pcie5.0 夾具銷(xiāo)售(u.2(nvme) clb/cbb; u.3(nvme) clb/cbb; edsff(e1.s/e1.l) clb/cbb; m.2 clb/cbb; ocp3.0 clb/cbb; re-driver board)
更新時(shí)間:2024-12-26
協(xié)會(huì) PCIE5.0  一致性測(cè)試 夾具 U.3 (NVME) Gen5 CLB
淼森波實(shí)驗(yàn)室 “協(xié)匯“ pcie5.0 夾具,pcie5.0 夾具銷(xiāo)售(u.2(nvme) clb/cbb; u.3(nvme) clb/cbb; edsff(e1.s/e1.l) clb/cbb; m.2 clb/cbb; ocp3.0 clb/cbb; re-driver board)
更新時(shí)間:2024-12-26
元器件模型提取
元器件模型提取是指在電子設(shè)計(jì)自動(dòng)化(eda)中,從實(shí)際的元器件(如電阻、電容、晶體管等)或電路中提取其電氣特性并建立相應(yīng)的數(shù)學(xué)模型的過(guò)程。這一過(guò)程通常用于電路仿真,以便在設(shè)計(jì)階段能夠更準(zhǔn)確地預(yù)測(cè)電路的性能。
更新時(shí)間:2024-12-26
FT838NB1 5W充電器/適配器IC方案
ft838nb1 內(nèi)飾npn 5w 充電器方案fmd 代理 大量庫(kù)存,聯(lián)系電話:18476656316 曾小姐
更新時(shí)間:2024-12-25
二極管 三極管專(zhuān)用測(cè)試儀器_QT2A型半導(dǎo)體管特性圖示儀
qt2a半導(dǎo)體管特性圖示儀可根據(jù)需要測(cè)量半導(dǎo)體二極管、三極管的低頻直流參數(shù),最大集電極電流可達(dá)50a,   基本滿(mǎn)足功率500w以下的半導(dǎo)體管的測(cè)試。
更新時(shí)間:2024-12-25
Rotex GS 7 98 ShA-GS 2.0-4H7/2.0-6H7 德國(guó)Hsb 傳動(dòng)單元
我司經(jīng)營(yíng)產(chǎn)品 工業(yè)閥門(mén)、閥門(mén)附件、工業(yè)過(guò)濾產(chǎn)品、工業(yè)電器、機(jī)械傳動(dòng)、軸承工具等
更新時(shí)間:2024-12-25
英國(guó)ABI-6500電路板故障檢測(cè)儀
64通道數(shù)字集成電路在線、離線功能測(cè)試;64通道v-i曲線模擬通道測(cè)試(可測(cè)模擬器件);強(qiáng)大的元器件和整板仿真測(cè)試功能
更新時(shí)間:2024-12-24
6400電路板故障檢測(cè)儀
產(chǎn)品體積小,重量輕,usb接口,適合攜帶;64路數(shù)字集成電路測(cè)試,64路v-i曲線測(cè)試,1路v-i探棒測(cè)試;
更新時(shí)間:2024-12-24
英國(guó)ABI-2500電路板故障檢測(cè)儀
含模擬器件測(cè)試庫(kù),可以直接對(duì)模擬器件進(jìn)行參數(shù)測(cè)試;測(cè)量通道數(shù):24個(gè)獨(dú)立測(cè)試通道
更新時(shí)間:2024-12-24
2400電路板故障檢測(cè)儀
適合各種類(lèi)型的測(cè)試,模擬及數(shù)字集成電路及各種分立器件的測(cè)試
更新時(shí)間:2024-12-24
英國(guó)ABI-3400專(zhuān)業(yè)級(jí)電路板故障檢測(cè)儀
三維立體v-i-f曲線測(cè)試儀;變頻掃描v-i-f曲線測(cè)試儀;專(zhuān)業(yè)級(jí)v-i-f曲線測(cè)試儀
更新時(shí)間:2024-12-24
英國(guó)ABI-BM8200電路板故障檢測(cè)儀
abi-8200包含2個(gè)重要測(cè)試模塊:abi-6400+abi-2400
更新時(shí)間:2024-12-24
英國(guó)ABI-BM8300多功能集成電路及電路板故障診斷
系統(tǒng)配有專(zhuān)用premier 操作軟件,系統(tǒng)中的所用測(cè)試項(xiàng)目可以同時(shí)操作使用,并按照需求制定測(cè)試工作流程,記錄下測(cè)試者每一步的測(cè)試數(shù)據(jù),形成寶貴的標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試程序
更新時(shí)間:2024-12-24
英國(guó)ABI-BM8400電路板故障檢測(cè)儀
在bm-8400中提供了1個(gè)數(shù)字集成電路功能測(cè)試模塊,其具有64個(gè)量測(cè)通道,可提供多種的量測(cè)功能.這些通道可提供全面性故障診斷能力,包括數(shù)字集成電路功能測(cè)試(在線/離線測(cè)試),集成電路接腳的連接狀態(tài)和電壓值的量測(cè),并連同在無(wú)電源供給的情形下使用的vi曲線的測(cè)試功能.
更新時(shí)間:2024-12-24
BM8500多功能電路板故障診斷工作站
集成電路及電路板的標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試功能;數(shù)字及模擬集成電路的功能測(cè)試;動(dòng)態(tài)及靜態(tài)測(cè)試;
更新時(shí)間:2024-12-24
ChipMaster手持式數(shù)字集成電路測(cè)試儀
采用無(wú)條件或有條件循環(huán)測(cè)試模式,能夠找到間歇性故障點(diǎn)和由溫度引起的故障,并顯示單個(gè)管腳的診斷信息.
更新時(shí)間:2024-12-24
LinearMaster手持式模擬集成電路測(cè)試儀
內(nèi)置元件庫(kù)可以擴(kuò)充升級(jí);準(zhǔn)確可靠的仿真測(cè)試;全面性測(cè)試更加準(zhǔn)確;
更新時(shí)間:2024-12-24
AT256全品種集成電路測(cè)試儀
最大測(cè)試管腳數(shù):256
更新時(shí)間:2024-12-24
AT192全品種集成電路測(cè)試儀
最大測(cè)試管腳:192腳
更新時(shí)間:2024-12-24
英國(guó)abi集成電路測(cè)試儀
英國(guó)abi_at256 a4集成電路測(cè)試儀具備二維集成電路專(zhuān)用v-i動(dòng)態(tài)阻抗端口測(cè)試通道:256路,二維電路板專(zhuān)用v-i動(dòng)態(tài)阻抗端口測(cè)試通道:64/128/192/256路(最大可擴(kuò)充至2048路),三維掃頻v-i-f動(dòng)態(tài)阻抗端口測(cè)試通道:64/128/192/256路(最大可擴(kuò)充至2048路)。
更新時(shí)間:2024-12-24
英國(guó)abi電路板反求系統(tǒng)
英國(guó)abi電路板反求系統(tǒng)通過(guò)測(cè)試夾、連接器、測(cè)試鉤連接到被測(cè)板上的各個(gè)器件來(lái)實(shí)現(xiàn)。system8 ultimate控制軟件將自動(dòng)指導(dǎo)用戶(hù)在被反求電路周?chē)胖煤鸵苿?dòng)測(cè)試夾具,軟件將生成最佳的夾具組合次序和夾具移動(dòng)次序,以便反求到電路板上所有可能的連接關(guān)系。用戶(hù)也可以修改和重寫(xiě)夾具的自動(dòng)放置、移動(dòng)次序。
更新時(shí)間:2024-12-24
6300多功能儀表工作站
abi-6300多功能儀表測(cè)量工作站 multiple instrument station module
更新時(shí)間:2024-12-24
1100可編程電源
邏輯電平輸出通道規(guī)格:(low voltage output for digital circuits) 電壓輸出范圍:2.5v ~ 6v 可編程;最小調(diào)整分辨率:0.01v
更新時(shí)間:2024-12-24
英國(guó)abi電路板測(cè)試儀
英國(guó)abi-6500電路板測(cè)試儀是專(zhuān)為數(shù)字電路設(shè)計(jì)的解決方案,具有強(qiáng)大的測(cè)試能力和高度的靈活性,可以進(jìn)行全面的數(shù)字電路故障診斷。
更新時(shí)間:2024-12-24
英國(guó)abi手持?jǐn)?shù)字集成電路測(cè)試儀
英國(guó)abi_chipmaster手持?jǐn)?shù)字集成電路測(cè)試儀可測(cè)40腳以下的數(shù)字集成電路和存儲(chǔ)器,接口集成電路,mcu/mpu等;可識(shí)別無(wú)標(biāo)記或無(wú)法辨別的芯片或列出代換的芯片;可顯示具體某個(gè)腳的故障診斷信息;可進(jìn)行循環(huán)或有條件循環(huán)測(cè)試;配合compactlink software軟件可進(jìn)行軟件升級(jí)。
更新時(shí)間:2024-12-24

最新產(chǎn)品

熱門(mén)儀器: 液相色譜儀 氣相色譜儀 原子熒光光譜儀 可見(jiàn)分光光度計(jì) 液質(zhì)聯(lián)用儀 壓力試驗(yàn)機(jī) 酸度計(jì)(PH計(jì)) 離心機(jī) 高速離心機(jī) 冷凍離心機(jī) 生物顯微鏡 金相顯微鏡 標(biāo)準(zhǔn)物質(zhì) 生物試劑
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