能量色散型X射線熒光光譜儀
1儀器簡介
Epsilon 3XLE 是種臺式能量色散 X 射線熒光 (EDXRF) 光譜儀,儀器將新的激發和探測技術與頂尖的分析軟件結合到了起。新的硅漂移探測器以及緊湊的光路設計相結合,具有改進的和擴展的輕元素功能(C - Am(錒系 95號 镅)),可對從 C 到 Am 的元素進行分析。而般的能量色散型X射線分析儀的分析范圍為從Na到U.
2儀器特點
技術先進:
普通能譜儀采用硅摻鋰探測器,它采用新的硅漂移探測技術。而且它的分析軟件也是領先的。
測量元素范圍廣:
具有改進的和擴展的輕元素功能(C - Am(錒系 95號 镅)),可對從 C 到 Am 的元素進行分析,而般的能量色散型X射線分析儀的分析范圍為從Na到U.但對于輕元素的測量不太靈敏。
易于操作,可靠且度靈活:
他不需要事先標樣,對樣品直接可以測定。操作步驟簡單固定。
連續測試重復性極強,測試數據穩定可靠:
測試結果與各元素的征X射線能量標準參照表非常接近,可重復測量,所得的結果都是樣的。
3工作原理
組織結構
X射線熒光激發源——硅漂移探測器——信號放大器——多道脈沖度分析器
X射線熒光激發源:
激發源采用性能金屬陶瓷 X 射線管。有不同的電壓和電流設置,可產生不同的X射線,用于照射待測樣品。
硅漂移探測器:
主要用于探測樣品發出的征X射線。
信號放大器:
用于脈沖信號的放大
多道脈沖度分析器
它和相應的分析軟件相結合,用于確定樣品中各元素的種類和含量。
充液氮的作用:
為了使硅中鋰穩定和降低晶體管的熱噪聲
X射線熒光的產生原理:
當能量于原子內層電子結合能的能X射線與原子發生碰撞時,就能驅逐個內層電子而出現個空穴,使整個原子體系處于不穩定的激發態,當較外層的電子躍入內層空穴所釋放的能量不在原子內被吸收,而是以輻射形式放出,便產生X 射線熒光,其能量等于兩能級之間的能量差。因此,X射線熒光的能量或波長是征性的,與元素有對應的關系。
硅漂移探測器—種通過光電效應探測光信號的器件
響應速度:
是指由X射線熒光所產生的電子移向探測器正極的速度。移動速度越快,測試越靈敏。怎么提它的移動速度呢?
在PN型二極管中存在耗盡層,其產生的內電場使光生電子具有漂移速度,大于耗盡層外的擴散速度。所以讓光生電子空穴對的過程盡量發生在耗盡層內,并加反向偏置電壓。來增強內電場,加快光生電子的移動。
以上所介紹的是普通的探測器所采用的辦法,而硅漂移探測器則利用了側向耗盡原理。它對二極管的結構進行了改造。相當于兩塊二極管N段相并,在段的邊緣鍍上n+歐姆接觸,并加壓,使n型硅晶片被耗盡,也就是形成完全耗盡層(空間電荷區)在中間就可以形成電子電勢低谷,這樣光生電子或熱電子在該電場的作用下,向收集電極漂移,將電信號傳給后面的信號放大器。
莫塞萊定律:√v=K(Z-α)
K為與靶中元素有關的常數
α為屏蔽常數,與電子所在的殼層有關
4應用領域
5可選軟件
Epsilon3X 光譜儀配有各種用行業軟件可選:
Omnian - 先進的無標樣分析軟件;針對多種不同類型未知材料樣品,實現快速可靠的定量分析。
Oil-Trace - 石化行業用軟件;用于解決對石油和石化進行分析時常面臨的挑戰的創新軟件包。
Stratos - 涂層厚度軟件;Stratos模塊采用的算法可同步確定化學成分和分層材料的厚度。
FingerPrint - “指紋識別”軟件;采用快速的光譜數據統計分析,可用于更全面的診斷分析的常規成分測定。
6與普通探測器的區別
不需要液氮制冷,可以在常溫下工作;
其電容小,脈沖成形時間也很短(通常簡稱其容納電荷的本領為電容)漂移時間雖然較長,但它的計數率(用計數管測定時,將單位時間內X射線通過計數管窗口的光子數)比般的半導體探測器幾十倍,靈敏度大大提。
7關于我們
馬爾文帕納科的公司簡介
馬爾文帕納科是材料表征領域的全球領導者,通過化學、物理和結構分析,打造出更勝籌的客戶導向型解決方案和服務,從而產生切實的經濟影響。我們的目標是幫助您開發更質量的產品并使產品更快速地上市。我們的解決方案為卓越研發提供支持,并幫助程度地提工作效率和流程效率。2017年1月1日起,馬爾文儀器(Malvern)和帕納科(PANalytical)合并,兩家公司同樣隸屬于思百吉集團(Spectris plc.)。新公司命名為馬爾文帕納科公司,是思百吉集團材料分析板塊旗下的運營公司。鑒于兩家公司擁有的世界、且在業內享有盛名的形態學分析儀器技術和X射線分儀器技術,公司的合并將為材料科學、化工、建筑材料、礦業、冶金、制藥及生命科學的研究與生產提供更全面的產品解決方案。 原英馬爾文儀器有限公司是世界著名的激光粒度儀業生產廠家,其產品分布于石化、石油、陶瓷、粉體、涂料、制藥、水泥、軍工等各個領域,占有世界絕大部分激光粒度儀市場。許多領域指定要用該儀器進行質量檢測和控制。
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